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结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，属于显微检测技术领域。1)在显微系统成像光路的探测端利用CCD相机采集显微镜视场的图像；2)运行显微系统，采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据；3)标注并扩充原始数据集，搭建、训练并测试深度学习...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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