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本申请实施例公开了一种半导体器件分类方法及相关装置，该方法包括获取待分组的半导体器件的总数n和最终分组组别的数量N；根据所述n确定最佳初步分组数k的取值范围，所述n、N、k均为正整数；获取待分组的半导体器件的器件参数，以及根据所述器件参数对...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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