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本发明涉及芯片测量技术领域，具体涉及一种高低温循环的芯片测试方法，该方法包括：获取芯片工作的电流时序数据，拟合获取电流数据拟合波形；设置时间窗口，对时间窗口的电流数据拟合波形的趋势变化周期特征进行分析，构建波形脉冲宽度凌乱系数；对时间窗口的...
该专利属于北京七星华创微电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京七星华创微电子有限责任公司授权不得商用。

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