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本申请涉及一种测试夹具。用于对半导体芯片进行老化测试，所述测试夹具包括：支撑机构，所述支撑机构用于承载多个半导体芯片；电路板，所述电路板设置在所述支撑机构上并用于同时与多个所述半导体芯片电性连接；及抵压机构，所述抵压机构设置在所述电路板上，...
该专利属于镭神技术（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过镭神技术（深圳）有限公司授权不得商用。

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