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本发明的实施例公开一种芯片测试系统及方法，涉及芯片制造领域，可以以低成本且简便的方式实现测试主机和测试位之间的数据交换。所述系统包括测试主机、主控单片机和从控单片机，所述主控单片机连接从控单片机，主控单片机和从控单片机通过解析测试主机发送的...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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