【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试系统及方法。
技术介绍
1、在芯片的大规模生产测试中，测试机台往往具有多个测试位。这些测试位都需要与测试主机进行通讯，获取测试命令、测试设置等信息。在芯片生产测试环境中，测试位数量固定，通讯信息长度固定，传输带宽很低，一般串口传输带宽足够满足使用要求，但是串口是点对点的传输，很难实现1个测试主机与多个测试位的串口通讯。
2、通过通用串行总线(英文：universal serial bus，缩写：usb)转换出来的串口数量多，但是对于生产上的测试主机，就需要管理多个串口。各个串口的中断处理、优先级处理、数据读取等都会比较复杂。而通过现场可编程逻辑门阵列(英文：field programmablegate array，缩写：fpga)实现1个测试主机与多个测试位的串口通讯方案，成本太高，不适合大规模应用。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供一种芯片测试系统及方法，能够以低成本且简便的方式实现测试主机和测试位之间的数据交换
2、本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：测试主机、主控单片机及从控单片机；
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：电源模块，所述电源模块分别与所述主控单片机和所述从控单片机相连。
3.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试主机与所述主控单片机之间连接有第一电平转换单元，所述第一电平转换单元用于对不同电平标准的串口数据进行转换；和/或，
4.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：测试主机、主控单片机及从控单片机；
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：电源模块，所述电源模块分别与所述主控单片机和所述从控单片机相连。
3.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试主机与所述主控单片机之间连接有第一电平转换单元，所述第一电平转换单元用于对不同电平标准的串口数据进行转换；和/或，
4.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求5所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述主控单片机和/或所述从控单片机内嵌有优先级处理系统，用于当同时接收到多个串口数据时，判断所述多个串口数据的优先处理等级。
9.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
10.根据权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试主机向主控单片机发送串口数据之后，所述主控单片机接收所述串口数据之前，所述方法还包括：
11.根据权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述主控单片机将所述串...
【专利技术属性】
技术研发人员：金又峥，徐宏思，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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