温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及冷热测试技术领域，公开了半导体老化冷热测试装置，包括箱体，还包括：翻板，翻板转动安装于箱体内部；转盘，箱体侧面开设有圆槽，转盘转动安装于圆槽内部；固定组件，固定组件有两个，两个固定组件分别设置于翻板对立的两侧，固定组件用于对半导体...
该专利属于无锡瑞鸿兴半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡瑞鸿兴半导体设备有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。