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上海宇航系统工程研究所
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一种精密二维伺服机构指向精度评估方法和系统技术方案
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文档序号:41726461
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本发明涉及精密测量技术领域,尤其涉及一种精密二维伺服机构指向精度评估方法,包括以下步骤:S1:根据多体系统理论建立二维伺服机构系统坐标系,并确定指向误差影响因素;S2:基于二维伺服机构系统坐标系建立误差传递链模型;S3:根据误差传递链模型建...
该专利属于上海宇航系统工程研究所所有,仅供学习研究参考,未经过上海宇航系统工程研究所授权不得商用。
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