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本发明旨在提供用于提高制造合格率的技术。本发明的光检测装置包括：半导体层，其具有在厚度方向上相互位于相反侧的第一面和第二面；分离区域，其设置于半导体层中且沿半导体层的厚度方向延伸；由分离区域划分的光电转换区域；导体，其设置于分离区域中且沿半...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。

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