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本发明涉及半导体测试技术领域，公开了一种晶圆测试环境自检系统及晶圆测试环境自检方法，通过在针卡PCB上设置样品芯片和切换测试电路，使得测试机可通过切换测试电路在与样品芯片连接和与量产芯片连接之间切换，以切换到样品测试模式或量产测试模式，从而...
该专利属于上海利扬创芯片测试有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海利扬创芯片测试有限公司授权不得商用。

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