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本发明公开了一种金属构件微米级缺陷电光原位无损检测方法，属于金属无损检测技术领域；该方法通过双向脉冲电流发生器施加交变电流于已加工构件表面，使构件升温，升温温度范围在材料的相变温度以下。通过观测电流流经缺陷边界因放电和电阻变化产生的温度差异...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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