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本发明属于半导体器件测试领域，具体涉及功率模块循环测试方法。本发明公开的功率模块循环测试方法包括：对串联或并联的若干个功率模块施加电流，以获得对应于每个功率模块的第一温度序列；根据第一温度序列和热输入序列确定功率模块响应热输入的第二温度序列...
该专利属于天津海瑞电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津海瑞电子科技有限公司授权不得商用。

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