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本发明公开了一种光束取样光栅的取样参数测量装置及方法，属于光束取样光栅的取样参数的测量，其目的在于提供一种既具备通用性和经济性，又能实现取样效率、取样角度和取样距离的取样参数测量装置及方法，其激光器输出的激光经一级扩束镜入射至第一分光镜后分...
该专利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院激光聚变研究中心授权不得商用。

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