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用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法及测量仪器技术
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文档序号:4170081
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本发明公开了一种用单片一维图象控测器件测量二维角度的方法及测量仪器,它包括光源、分划板、物镜组、反射镜图象探测器件、分光棱镜。所述的分划板设置有带N字型、∧型、∨型;所述分光棱镜的共轭焦平面处设置有一维图象探测器件。通过该仪器可方便地测量角...
该专利属于天津大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津大学授权不得商用。
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