The invention discloses a method and a measuring instrument for measuring two-dimensional angles with a single one-dimensional image control device, comprising a light source, a reticle, an objective lens set, a mirror image detector, and a light splitting prism. The reticle is equipped with N type, type, type V; conjugate focal plane of the prism is provided with one-dimensional image detection device. The angle can be measured conveniently by this instrument. The method and the measuring instrument of the invention have the advantages of high resolution, high precision, simple instrument structure and low cost.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及精密测试计量
，具体地说是一种二维角度的测量方法及测量仪器。就目前技术状况而言，都是用一维图象探测器件测量一维角度，用二维图象探测器件测量二维角度。比如分划板使用十字型指标线，在共轭物镜焦平面上放置一片二维图象探测器件，就可以接收到对应于反射镜二维偏角的分划板十字图象，处理后可得到反射镜二维偏角的具体数值；但在目前的技术水平下，二维图象探测器件分辨率远不如一维图象探测器件，造价却比一维图象探测器件高得多，而且使用二维图象探测器件的机械结构和处理电路也比一维图象探测器复杂得多。如要用二片一维图象探测器件采用分光的方法测量二维偏角，由于光路安排的原因，当图象接近视场中心时，无法克服十字线的盲区问题。本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术的不足，提供一种用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法及测量仪器，本方法及测量仪器具有分辨率高、精度高、仪器结构简单、成本低的特点。为了达到上述目的，本专利技术采用如下技术方案用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法，在自准直光路中，光线由光源经聚光镜聚光，通过带有指标线的分划板，经物镜组照射到反射镜上，光...
【技术保护点】
一种用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法，在自准直光路中，光线由光源经聚光镜聚光，通过带有指标线的分划板，经物镜组照射到反射镜上，光线经反射镜反射，再通过物镜组经分光棱镜分光，达到共轭焦平面，在共轭焦平面处放置有图象探测器件，其特征在于：ａ．所述的分划板指标线图案为Ｎ字型、∧型、∨型或其它带有相交斜线的图案；ｂ．所述的在共轭焦平面处放置的图象探测器件，是一片一维图象探测器；ｃ．偏角可通过如下公式计算：参考附图２ｘ、ｙ坐标偏移量：＊＊＊换算成反射镜上ｘ、 ｙ坐标偏角为：＊＊＊其中ＡＡ′是指两个不同状态时分划板指标线的投影图在一维图象探...
【技术特征摘要】
1．一种用单片一维图象探测器件测量二维角度的方法，在自准直光路中，光线由光源经聚光镜聚光，通过带有指标线的分划板，经物镜组照射到反射镜上，光线经反射镜反射，再通过物镜组经分光棱镜分光，达到共轭焦平面，在共轭焦平面处放置有图象探测器件，其特征在于a．所述的分划板指标线图案为N字型、∧型、∨型或其它带有相交斜线的图案；b．所述的在共轭焦平面处放置的图象探测器件，是一片一维图象探测器；c．偏角可通过如下公式计算参考附图2x、y坐标偏移量 换算成反射镜上x、y坐标偏角为 其中AA′是指两个不同状态时分划板指标线的投影图在一维图象探测器件的偏移量；L1、L2是指两不同状态下分划板指标线的投影图在一维图象探...
【专利技术属性】
技术研发人员：林玉池，于建，赵美蓉，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]
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