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本发明涉及校准标准件、传感器设备和用途，校准标准件是用于对光学传感器(100)进行调校、校准和/或对光学传感器执行功能检验的校准附件(50)，该光学传感器被设计成用于借助光测量介质(5)中的至少一个测量参量，其中，传感器(100)被设计成用...该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司授权不得商用。
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本发明涉及校准标准件、传感器设备和用途，校准标准件是用于对光学传感器(100)进行调校、校准和/或对光学传感器执行功能检验的校准附件(50)，该光学传感器被设计成用于借助光测量介质(5)中的至少一个测量参量，其中，传感器(100)被设计成用...