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本发明提供一种半导体器件及其制备方法和电子装置,方法包括:提供基底;在所述基底中同时形成彼此间隔的第一沟槽和第二沟槽;其中,所述第一沟槽的厚度大于所述第二沟槽的厚度,且所述第一沟槽的宽度大于所述第二沟槽的宽度;形成介质层以覆盖所述第一沟槽的...该专利属于芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种半导体器件及其制备方法和电子装置,方法包括:提供基底;在所述基底中同时形成彼此间隔的第一沟槽和第二沟槽;其中,所述第一沟槽的厚度大于所述第二沟槽的厚度,且所述第一沟槽的宽度大于所述第二沟槽的宽度;形成介质层以覆盖所述第一沟槽的...