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半导体PN类型非接触式光电测量装置制造方法及图纸
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文档序号:41657348
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本技术公开了半导体PN类型非接触式光电测量装置,涉及半导体材料检测技术领域,包括传感器的壳体,所述壳体的内部安装有检测电极、导光板、脉冲激光管、激光管驱动器电路板、放大器电路板和同步整流器,所述导光板固定安装在检测电极的一端面,所述检测电极...
该专利属于无锡研谱智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡研谱智能科技有限公司授权不得商用。
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