下载一种半导体装置及其形成方法的技术资料

文档序号:41641801

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本发明涉及一种半导体装置及其形成方法,涉及半导体技术领域,在本发明的半导体装置的形成方法中,通过ALD工艺形成致密氧化铝层,然后在致密氧化铝层上形成另一氧化铝层,且在该氧化铝层的形成过程中,向反应腔室中通入适量的封端剂,进而在后续的热处理工...
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