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本发明公开了一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法。该电路装置包括一个二选一电路模块，三个触发器以及一个表决器。其在实现存储节点三模冗余的同时实现了扫描触发器的功能，以简单的数字逻辑电路和较小的代价，提高半导体集成电路芯片的可靠...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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