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本发明涉及荧光显微成像技术，具体涉及一种基于条纹信息的结构光照明显微镜图像配准方法，包括通过三维结构光照明显微镜系统获取样品在不同区域的样本图像，并获取不同区域的配准图像；选一个区域作为参考区域，并采用传统配准方法得到不同区域的初次配准矩阵...
该专利属于重庆邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过重庆邮电大学授权不得商用。

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