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封装结构及封装结构的形成方法技术
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文档序号:41580785
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一种封装结构及封装结构的形成方法,结构包括:第一晶片,所述第一晶片包括:第一器件以及第一电互连结构,所述第一电互连结构与所述第一器件电连接;位于所述第一晶片上的第一连接层,所述第一连接层的一端电连接所述第一电互连结构;位于第一晶片上的保护层...
该专利属于常州承芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过常州承芯半导体有限公司授权不得商用。
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