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本发明所公开的新增功能模块的验证方法、系统、电子设备及可读存储介质，方法是通过构建dut集成验证环境，并通过新增功能模块构建验证模块；在dut集成验证环境中集成该验证模块，得到更新后的集成验证环境；在更新后的集成验证环境中验证该新增功能模块...
该专利属于成都芯盛集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都芯盛集成电路有限公司授权不得商用。

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