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本技术涉及电子元器件类测试技术领域，尤其为一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置，所述测试平台模组的表面固定连接有电磁阀模组，所述测试平台模组的表面固定连接有下料流水线模组，所述测试平台模组的表面固定连接有整列机上料模组，所述测试平台模...
该专利属于元六鸿远（苏州）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过元六鸿远（苏州）电子科技有限公司授权不得商用。

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