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本申请实施例涉及异常检测技术领域，特别涉及一种高反光表面缺陷检测方法、电子设备及存储介质。其中的高反光表面缺陷检测方法包括：使用N步相移法获取产品表面的第一样本图像，并根据第一样本图像合成第二样本图像；对第一样本图像按预定方式进行截取，得到...
该专利属于上海库灵科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海库灵科技有限公司授权不得商用。

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