【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及异常检测，特别涉及一种高反光表面缺陷检测方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、产品表面缺陷检测在产品生产制造中是至关重要的环节，存在于产品表面的一些较大的缺陷容易被筛选出来，但是一些较小，肉眼不能明显识别的缺陷往往随着产品的出厂而进入用户群体。这会严重影响用户对产品的体验效果及满意度。因此为了确保用户的体验，控制产品的品质，在产品生产出厂前要经过严格的表面缺陷检测，才能进入市场。
2、随着异常检测技术的不断发展，产品表面缺陷检测的效率在不断提升，产品表面不同类别的缺陷的识别准确性也在不断提升。根据产品表面的缺陷样本图像训练识别产品表面图像中存在的缺陷的能力也在不断提升。但是，对于一些具有高反光表面的大尺寸产品而言，缺陷样本较为稀缺，检测结果容易受到样本数量的影响。因此，如何完成这些大尺寸产品的表面缺陷检测，适应缺陷样本稀缺的检测场景，仍然是一个重要的问题。
技术实现思路
1、本申请实施方式的目的在于提供一种高反光表面缺陷检测方法、电子设备及存储介质，能够完成...
【技术保护点】
1.一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述第二样本图像的表达式为：
3.根据权利要求1所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述按预定方式截取具体为：
4.根据权利要求1所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述无监督学习模型包括教师模型，学生模型和自编码器，所述教师模型由蒸馏得到，所述学生模型和所述自编码器用于从图像中提取特征，并和所述教师模型的输出结果进行运算得到待检测图像的缺陷热度图。
5.根据权利要求4所述的一种高反光表...
【技术特征摘要】
1.一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述第二样本图像的表达式为：
3.根据权利要求1所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述按预定方式截取具体为：
4.根据权利要求1所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述无监督学习模型包括教师模型，学生模型和自编码器，所述教师模型由蒸馏得到，所述学生模型和所述自编码器用于从图像中提取特征，并和所述教师模型的输出结果进行运算得到待检测图像的缺陷热度图。
5.根据权利要求4所述的一种高反光表面缺陷检测方法，其特征在于，所述无监督学习模型还包括s...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐荣来，
申请(专利权)人：上海库灵科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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