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非尖端-样品表面依赖的亚表面特征超分辨无损成像方法技术
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文档序号:41528441
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本发明公开了非尖端‑样品表面依赖的亚表面特征超分辨无损成像方法。方法包括将含有球型异质纳米颗粒的待检样品放置在超声换能器上,利用计算机调控待检样品的位置使待检样品位于隧穿电极的下方,预设正弦激励信号强度和直流偏置电压大小,正弦激励信号激励超...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。
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