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本发明提供一种基于分离式扇形谐振腔的介电性能测试系统及方法，属于微波测试技术领域。区别于现有的分离式圆柱谐振器的结构，本发明采用一个扇形的分离式柱形谐振腔，同时在分离式谐振器的两表面边缘切断出一条缝隙以抑制杂模，最终实现了工作模式附近干扰模...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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