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本技术涉及测试座技术领域，尤其是一种芯片缓压测试座，包括上盖、底座、浮力针板、上针板、探针、下针板，上盖与底座铰接，探针自上而下贯穿浮力针板、上针板和下针板，底座上设有测试腔，浮力针板上开设有定位槽；所述定位槽与测试腔位置对应，测试座还包括...
该专利属于金华市淖悦精密科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过金华市淖悦精密科技有限公司授权不得商用。

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