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本发明属于信息科学技术领域，涉及一种复杂曲面微纳结构电磁屏蔽效能综合评估分析方法。包括：1)构造微纳单胞结构的参数化模型，并基于电流连续性原理计算其电磁屏蔽效能。2)采用二分法建立均匀化等效方法，将微纳结构单胞等效为特定尺寸介质块，并通过迭...
该专利属于大连理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过大连理工大学授权不得商用。

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