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本发明公开了基于模板匹配的半导电带绕包搭盖测量方法及系统，属于半导电带绕包搭盖测量技术领域，本发明要解决的技术问题为当前电缆行业中半导电带绕包搭盖测量方式低效率、低精度、人力成本高，采用的技术方案为：基于图像差分的电缆区域提取：通过产线上的...
该专利属于浪潮软件集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浪潮软件集团有限公司授权不得商用。

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