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本技术属于转接导通测试技术领域，具体涉及一种用于转接导通的片状探针，包括上接触部、下接触部及缓冲部，上接触部、缓冲部、下接触部一体成型且整体呈片状结构；上接触部包括片状的上基体，上基体的上端形成有凹槽，上基体位于凹槽的两侧分别凸出形成上触头...
该专利属于江苏联康测控有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏联康测控有限公司授权不得商用。

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