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制造低k介电膜的方法及使用低k介电膜的气隙的形成技术
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下载制造低k介电膜的方法及使用低k介电膜的气隙的形成的技术资料
文档序号:4146921
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本发明披露了一种制造介电膜的方法以及一种使用制造的低k介电膜形成气隙的方法。制造低k介电膜的方法包括:将TMS和3、3-二甲基-1-丁烯导入到等离子体沉积反应器中,利用反应器中产生的等离子体来聚合TMS和3、3-二甲基-1-丁烯,从而在置于...
该专利属于东部高科股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过东部高科股份有限公司授权不得商用。
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