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一种功率场效应晶体管的可靠性预测方法技术
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文档序号:41468323
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一种功率场效应晶体管的可靠性预测方法,属于功率MOSFET可靠性建模技术领域,本发明为解决现有采用深度学习模型对功率器件进行可靠性预测中存在手动调整模型超参数,导致工作效率低的问题。它包括:S1、采集传感器的数据作为初始数据,对初始数据进行...
该专利属于哈尔滨工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。
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