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本申请提供了一种调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片，调节扫描测试电路的方法包括：在电路中插入扫描测试链；利用测试生成工具生成针对所述电路的测试模式，测试模式包括对所述电路中各节点的激励信号；加载测试模式至所述扫描测试链；将电路的输入...
该专利属于北京芯驰半导体科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京芯驰半导体科技股份有限公司授权不得商用。

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