【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电路测试技术，尤其涉及调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片。
技术介绍
1、在大规模的集成电路中，扫描测试是保证电路性能的重要手段。扫描测试阶段会产生非常大的移位功耗。因此，如何通过调节扫描测试电路来降低移位功耗，是电路测试
亟需解决的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片，能够降低电路在扫描测试阶段的移位功耗。
2、本申请实施例的技术方案是这样实现的：
3、第一方面，本申请实施例提供一种调节扫描测试电路的方法，所述方法包括：
4、在电路中插入扫描测试链，所述扫描测试链包括至少两个触发器，所述触发器用于在所述电路中移位数据；利用测试生成工具生成针对所述电路的测试模式，所述测试模式包括对所述电路中各节点的激励信号；加载所述测试模式至所述扫描测试链；将所述电路的输入信号传输至所述扫描测试链的第一个触发器，通过移位操作将所述输入信号从所述第一个触发器传递至所述扫描测试链的最后一个触发器；确...
【技术保护点】
1.一种调节扫描测试电路的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一时钟对应多个延时电路，每个所述延时电路与一个延时调节单元连接，每个所述延时电路包括多个延时单元；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述延时电路的数量为至少一个，所述通过延时调节单元控制所述第一时钟对应的延时电路导通，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述移位功耗不满足功耗条件，则针对每个延时电路，遍历所述延时电路包括
【技术特征摘要】
1.一种调节扫描测试电路的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一时钟对应多个延时电路，每个所述延时电路与一个延时调节单元连接，每个所述延时电路包括多个延时单元；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述延时电路的数量为至少一个，所述通过延时调节单元控制所述第一时钟对应的延时电路导通，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述移位功耗不满足功耗条件，则针对每个延时电路，遍历所述延时电路包括的每个延时单元；
6.一种扫描测试电路，其特征在于，所述扫描测试电路包括：电路、延时调节单元和延时电路；其中，所述电路中插入扫描测试链，所述扫描测试链包括至少两个触发器，所述触发器用于在所述电路中移位数据；所述扫描测试链加载有测试模式，所述测试模式通过测试生成工具生成，所述测试模式包括对...
【专利技术属性】
技术研发人员：纪璐璐，
申请(专利权)人：北京芯驰半导体科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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