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用于硅基光电晶圆边缘耦合测试的光耦合器制造技术
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下载用于硅基光电晶圆边缘耦合测试的光耦合器的技术资料
文档序号:41465183
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本技术提供一种用于硅基光电晶圆边缘耦合测试的光耦合器,包括光芯片、水平耦合器、光传输波导、光栅耦合器及光纤阵列;水平耦合器、光传输波导和光栅耦合器均同侧设于光芯片上;水平耦合器设于光芯片的一端,光栅耦合器设于光芯片的另一端;光传输波导连接于...
该专利属于湖北九峰山实验室所有,仅供学习研究参考,未经过湖北九峰山实验室授权不得商用。
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