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本技术涉及一种芯片测试座，具体是一种翻盖式芯片测试座，包括：测试台，所述测试台的底部设有电路盒，所述测试台的后端通过转轴转动连接有防护盖，所述测试台的顶部开设有凹槽，所述测试台凹槽的内部中心固定连接有冷却台，且测试台凹槽的内部两侧均开设有滑...
该专利属于湖南格微科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖南格微科技有限公司授权不得商用。

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