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本发明公开了一种单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质，包括：确定待测单晶材料的扫描带范围；在所述扫描带范围内，对所述待测单晶材料在不同的极径和极角下进行衍射扫描，得到若干第一衍射谱图；对若干所述第一衍射谱图的衍射强度峰值以及对应...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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