单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41459886 阅读:24 留言:0更新日期:2024-05-28 20:45
本发明专利技术公开了一种单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质,包括:确定待测单晶材料的扫描带范围;在所述扫描带范围内,对所述待测单晶材料在不同的极径和极角下进行衍射扫描,得到若干第一衍射谱图;对若干所述第一衍射谱图的衍射强度峰值以及对应的极径和极角进行拟合,得到三维拟合曲线;在所述扫描带范围内,对所述待测单晶材料在所述三维拟合曲线的峰位点对应的极径和极角下进行衍射扫描,得到第二衍射谱图;根据所述第二衍射谱图的衍射强度峰值对应的衍射角,计算待测单晶材料的残余应力。本发明专利技术的目的在于解决对单晶材料进行残余应力测试时,整个过程针对性差、效率低、测试扫描时间长的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于金属材料残余应力测试,特别提供一种单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、涡轮叶片作为航空发动机热端关键部件,通常采用镍基单晶合金材料制作。单晶涡轮叶片长期服役于高速、高温、重载等恶劣环境,单个涡轮叶片的离心载荷可以达到数吨以上,同时单晶涡轮叶片还受到来自高温、高压、高速气体的气动力,叶片上不同部位的温度差还会引起温度载荷等,在高离心载荷和高温度载荷同时作用下,单晶涡轮叶片存在塑性变形、温度分布、相变过程不均匀等现象,在涡轮叶片局部形成残余应力严重制约涡轮叶片的服役性能,因此有必要进行残余应力测试。

2、目前对单晶材料进行残余应力测试,通常采用的是极图法,通过选取低指数晶面进行极图扫描,确定晶体在样品坐标系中的位置,计算出其它(hkl)晶面族的方位角,再通过小步长精确扫描得到准确的测量晶面法线的空间方位角和布拉格角,将其带入公式通过线性回归的方法计算残余应力。但是,由于单晶材料结构内部包括大量枝晶,其衍射峰在空间内的分布较为稀疏,单晶材料在残余应力测试过程中为了对衍射峰进行标定,需要进行全局扫描,扫描的次本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述确定待测单晶材料的扫描带范围,包括:

3.根据权利要求2所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述获取所述待测单晶材料的理论极点的位置信息,包括:

4.根据权利要求2所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述根据所述理论极点的位置信息,确定所述待测单晶材料的扫描带范围,具体为:

5.根据权利要求1所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述对若干所述第一衍射谱图的衍射强度峰值以及对...

【技术特征摘要】

1.一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述确定待测单晶材料的扫描带范围,包括:

3.根据权利要求2所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述获取所述待测单晶材料的理论极点的位置信息,包括:

4.根据权利要求2所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述根据所述理论极点的位置信息,确定所述待测单晶材料的扫描带范围,具体为:

5.根据权利要求1所述的一种单晶材料残余应力的测试方法,其特征在于,所述对若干所述第一衍射谱图的衍射强度峰值以及对应的极径和极角进行拟合,得到三维拟合曲线,包括:

6.根据权利要求1所述的一种单晶材料残余应力...

【专利技术属性】
技术研发人员:温广瑞黄博洋齐晓纲李良博张源麟张占玲雷子豪苏宇张志芬聂祥樊
申请(专利权)人:西安交通大学
类型:发明
国别省市:

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