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本发明提供一种用于降低扰乱粒子的准直装置，适用于原子束流的准直，用于降低扰乱粒子的准直装置包括：准直本体，包括平行且间隔分布的多个准直腔，每一准直腔包括围设于所述准直腔外围的腔壁；以及吸附介质，吸附介质设置于腔壁上。通过腔壁上的吸附介质的吸...
该专利属于凯瑟斯技术（杭州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过凯瑟斯技术（杭州）有限公司授权不得商用。

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