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本申请公开了一种检测机构，该检测机构包括载体座、第一光检测结构及第二光检测结构，载体座上有用于放置待测芯片产品的检测槽；第一光检测结构以及第二光检测结构设置在载体座的外周，第一光检测结构沿第一方向检测芯片产品的放置姿态，第二光检测结构沿第二...
该专利属于深圳市深科达半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市深科达半导体科技有限公司授权不得商用。

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