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描述了一种用于校正带电粒子束装置中的带电粒子束的像差的校正器。校正器包括被配置为在垂直于束轴的平面中的多个接线。接线形成两个或更多个开口,用于穿过两个或更多个开口传递带电粒子束。多个接线至少包括第一接线和第二接线,所述第一接线具有被配置为向...该专利属于ICT半导体集成电路测试有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ICT半导体集成电路测试有限公司授权不得商用。
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描述了一种用于校正带电粒子束装置中的带电粒子束的像差的校正器。校正器包括被配置为在垂直于束轴的平面中的多个接线。接线形成两个或更多个开口,用于穿过两个或更多个开口传递带电粒子束。多个接线至少包括第一接线和第二接线,所述第一接线具有被配置为向...