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本发明提供一种芯片内嵌调试模块，包括调试控制模块和内嵌逻辑分析总线；所述内嵌逻辑分析总线用于将芯片的各个模块和所述调试控制模块构成环形串联；所述调试控制模块用于基于所述内嵌逻辑分析总线上捕获所述模块的输入输出数据，以根据所述输入输出数据实现...
该专利属于南京金阵微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京金阵微电子技术有限公司授权不得商用。

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