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本发明提供一种半导体装置及半导体装置的制造方法。在半导体装置中，期望抑制故障。该半导体装置具备：有源部，其配置于上表面电极的下方；以及边缘终端结构部，其在俯视时配置于上表面电极与半导体基板的端边之间，有源部具有有源集电区，边缘终端结构部具有...
该专利属于富士电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士电机株式会社授权不得商用。

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