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本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取待测物的缺陷图像，并从缺陷图像中确定待分析的缺陷块；从待分析的缺陷块中选定目标缺陷块，确定目标缺陷块的参考外接框；基于预设聚类半径，将参考外接框进行外扩，形成扩展外...
该专利属于深圳中科飞测科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳中科飞测科技股份有限公司授权不得商用。

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