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本技术提供一种IC卡片铣槽深度的测量治具，包括适于覆盖IC卡片上的铣槽的测量板，测量板上设置有多个镂空测量孔，镂空测量孔包括四个一层槽角点测量孔、至少一个一层槽长边测量孔以及至少一个二层槽测量孔；四个一层槽角点测量孔呈2×2矩阵分布并且行距...
该专利属于武汉天喻信息产业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉天喻信息产业股份有限公司授权不得商用。

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