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本技术公开了一种半导体机电设备漏电检测机构,包括设备本体,所述设备本体的上方设置有横状条,所述横状条的前侧设置有竖状条,所述横状条的前侧开设有第一滑槽;第一移动机构,所述第一移动机构位于第一滑槽内,所述第一移动机构包括转动连接在第一滑槽左右...该专利属于天津华创芯微科技发展有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过天津华创芯微科技发展有限公司授权不得商用。
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