下载一种芯片测试分选机的技术资料

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本技术公开一种芯片测试分选机,包括机台,所述机台设有测试装置和周转装置,所述测试装置的两侧分别设置有进料口和取料口,所述周转装置包括两个,分别设置于进料口和取料口处,所述进料口和取料口均通过开合装置在打开状态和闭合状态之间转换,以使芯片在测...
该专利属于泉州兰姆达仪器设备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过泉州兰姆达仪器设备有限公司授权不得商用。

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