【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体是一种芯片测试分选机。
技术介绍
1、芯片在生产时需要进行测试，在测试完成后，又需要根据测试结果对芯片进行分类，分类可分为多种，有按性能高低分，有按质量好坏分，因此，又需要及时对芯片进行分选，从而为后续生产提供参考。然而，在现有技术中，芯片的测试往往需要人工辅助，例如，需要工人将芯片放入测试机内，利用测试机测试，测试完成后又需要工人将芯片取出并放入新的芯片再测试。而在测试完成后又需要工人根据测度结果将芯片进行人工分类，放料取料时需要频繁开启测装装置的仓门，这种方式自动化程度低、工人的工作强度大，生产效率比较低，不利于大批量生产。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种芯片测试分选机，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试分选机，包括机台，所述机台设有测试装置和周转装置，所述测试装置的两侧分别设置有进料口和取料口，所述周转装置包括两个，分别设置于进料口和取料口处，所述进料口和取料口均通过开合装置在打开...
【技术保护点】
1.一种芯片测试分选机，其特征在于：包括机台，所述机台设有测试装置和周转装置，所述测试装置的两侧分别设置有进料口和取料口，所述周转装置包括两个，分别设置于进料口和取料口处，所述进料口和取料口均通过开合装置在打开状态和闭合状态之间转换，以使芯片在测试装置和周转装置之间转移。
2.根据权利要求1所述的芯片测试分选机，其特征在于：所述周转装置包括设置于进料口和取料口处的周转箱，所述周转箱上设置有仓门。
3.根据权利要求1所述的芯片测试分选机，其特征在于：所述开合装置包括固定板、压紧板、用于带动固定板和压紧板同步移动的移动机构以及用于带动压紧板封闭进料...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选机，其特征在于：包括机台，所述机台设有测试装置和周转装置，所述测试装置的两侧分别设置有进料口和取料口，所述周转装置包括两个，分别设置于进料口和取料口处，所述进料口和取料口均通过开合装置在打开状态和闭合状态之间转换，以使芯片在测试装置和周转装置之间转移。
2.根据权利要求1所述的芯片测试分选机，其特征在于：所述周转装置包括设置于进料口和取料口处的周转箱，所述周转箱上设置有仓门。
3.根据权利要求1所述的芯片测试分选机，其特征在于：所述开合装置包括固定板、压紧板、用于带动固定板和压紧板同步移动的移动机构以及用于带动压紧板封闭进料口或取料口的压紧机构。
4.根据权利要求3所述的芯片测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：林杰龙，苏婷，
申请(专利权)人：泉州兰姆达仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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